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HOLE Datenblatt, PDF

Gesuchtes Schlüsselwort : 'HOLE' - Total: 122 (1/7) Pages
HerstellerTeilenummerDatenblattBauteilbeschribung
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Hubbell Incorporated.
BURNDY_YA4CA8 Datasheet pdf image
271Kb/2P
4 AL 1-HOLE
BURNDY_YA28A13N65TD14E Datasheet pdf image
257Kb/2P
4/0 AL HYLUG 1-HOLE
BURNDY_YA31A5 Datasheet pdf image
261Kb/2P
UNINSULATED ALUMINUM COMPRESSION TERMINAL, 1-HOLE
BURNDY_YA32A3 Datasheet pdf image
261Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 400 kcmil, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing.
BURNDY_YA32A5 Datasheet pdf image
261Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 400 kcmil, 3/8" Stud, 1" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA29A3 Datasheet pdf image
262Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 250 kcmil, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA30A3 Datasheet pdf image
262Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 300 kcmil, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA31A3 Datasheet pdf image
261Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 350 kcmil, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA28A7 Datasheet pdf image
264Kb/3P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 4/0 AWG, 3/8" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA26A3 Datasheet pdf image
262Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 2/0 AWG, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA34A8 Datasheet pdf image
255Kb/1P
WIRE: 500kcmil AL9CU, STUD: 1/2" 2 HOLE NEMA TONGUE.
YAEV18BOX Datasheet pdf image
263Kb/2P
Copper Lug, Ring Tongue, 1 Hole w/ Inspection Hole, AN 22-18, #8-#10 Stud, Insulated, Short Barrel, Tin Plated, 600 Volts Max.
YAE12N2BOX Datasheet pdf image
271Kb/2P
Copper Lug, Ring Tongue, 1 Hole w/ Inspection Hole, 14-12 AWG, 1/4" Stud, Insulated, Short Barrel, Tin Plated, 600 Volts Max.
BURNDY_YA28A5 Datasheet pdf image
263Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 4/0 AWG, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Tin Plated.
BURNDY_YA27A1 Datasheet pdf image
268Kb/3P
Aluminum Compression Lug, 1 Hole w/o Inspection Window, 3/0 AWG, Aluminum Compression Lug, 1 Hole w/o Inspection Window, 3/0 AWG,
BURNDY_YA2CA9 Datasheet pdf image
262Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 2 AWG, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Short Barrel, Tin Plated.
BURNDY_YA39A5 Datasheet pdf image
263Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 750 kcmil, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Al/Cu Rated, Tin Plated.
BURNDY_YA25A7 Datasheet pdf image
264Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 1/0 AWG, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Long Barrel, Tin Plated.
BURNDY_YA2CA9DT Datasheet pdf image
261Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 2 AWG, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Short Barrel, Dipped Tin Plated.
BURNDY_YA44A3 Datasheet pdf image
262Kb/2P
Aluminum Compression Lug, 2 Hole w/o Inspection Window, 1000 kcmil, 1/2" Stud, 1-3/4" Stud Hole Spacing, Al/Cu Rated, Tin Plated.

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Was ist HOLE


Loch ist eines der in der Halbleitertheorie verwendeten Konzepte.

Semiconductor ist ein Feld, das den Betrieb von Elektronen untersucht, und der Elektronenfluss kann durch das Konzept der Löcher erklärt werden, ein Konzept im Zusammenhang mit der Bewegung von Elektronen und dem Mangel an Elektronen gleichzeitig.

Hole bezieht sich auf Elektronenentzug, das durch die Bewegung eines Elektrons aus einem Atom verursacht wird, an das es gebunden ist.

Dies weist auf einen Mangel an Elektronen in den gebundenen Atomen hin.

Diese Löcher haben eine positive Ladung im Gegensatz zu Elektronen und beeinflussen das elektrische Verhalten.

Hole spielt eine wichtige Rolle beim Design des Halbleitergeräts.

Insbesondere in einem P-Typ-Halbleitergerät treten die Bewegung von Löchern und die Bewegung von Elektronen zusammen.

Diese Löcher dienen dazu, die Bewegung von Strom in P-Typ-Halbleitergeräten zu erleichtern.

*Diese Informationen dienen nur zu allgemeinen Informationszwecken. Wir haften nicht für Verluste oder Schäden, die durch die oben genannten Informationen verursacht werden.


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